Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)

Microscopios electrónicos de barrido· traducción automática de TED

Comprador

Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia(00166804)

Dónde

Košice - mestská časť Sever, SK042 · Eslovaquia

Importe

2,14 M€

Ofertas hasta

02 sept 2025

Fin del contrato

15 mar 2026

Duración

5,5 meses

Procedimiento

open

Acuerdo marco

No

CPV

38511100 · 38512100

Procedimiento (id)

fcdab9bd-2f23-41cd-ab64-21f4e2ed8965

Fuente

TED