fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca
- Comprador
- UNIVERSITA' DEGLI STUDI DI MILANO - BICOCCA(12621570154)
- Dónde
- Milano, Milano · Italia
- Importe
- 990 k€
- Adjudicataria
- CARL ZEISS S.P.A. CON SOCIO UNICO(00721920155)
- Procedimiento
- Negoziata senza previa indizione di gara
- CPV
- 38510000
- Procedimiento (id)
- fa64a70a-82ce-46ff-8e5b-99c7ff868333
- Fuente
- ANAC (Pubblicità Legale)