Optical profilometer with the ability to measure the Warpage (bending) of 300 mm wafer

Upgrade of a 200 mm WxZ Tungsten CVD Chamber to WxZ Sprint Configuration

Máquinas diversas para usos especiales· traducción automática de TED

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SFI Solutions for Instruments GmbH

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Lieferung eines vollautomatischen Drahtbonders

Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas)· traducción automática de TED

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Hesse GmbH

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Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Máquinas y aparatos de pruebas y medida· traducción automática de TED

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ATV Systems GmbH

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RF Vector Signal Generator

Generadores de señales· traducción automática de TED

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Rohde & Schwarz GmbH & Co.KG

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Semiconductor Switch-Matrix

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Fachliche Unterstützung für die Entwicklung von Hochvolt-Treibern

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Service-Support-Vertrag für NIKON-Belichtungsmaschinen

Servicios de reparación y mantenimiento de maquinaria· traducción automática de TED

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Fin del contrato

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Sensorservice für überwachungspflichtige Gase für die Jahre 2026 bis 2030

Aparatos detectores de gas· traducción automática de TED

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Fin del contrato (estimada)

10 sept 2030

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Ges

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200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Instrumentos de medida de magnitudes eléctricas· traducción automática de TED

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ATV Systems GmbH

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Erweiterung der Elektroversorgung - Errichtung einer USV-Anlage und Klimatisierung in der Reinraumerweiterung

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