SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI_LOTTO 1 CIG B2EB2EE6C8 DIFFRATTOMETRO A RAGGI X_LOTTO 2 CIG B2EB2EF79B SPETTROMETRO
Espectrómetros· traducción automática de TED
- Comprador
- Consiglio Nazionale delle Ricerche - Istituto per la Microelettronica e Microsistemi(02118311006)
- Dónde
- Catania, ITG17 · Italia
- Importe
- 965 k€
- Firma o adjudicación
- 28 ago 2024
- Adjudicatarias
- ASSING SPA(01603091008)
- CRISEL INSTRUMNTS SRL(04703401002)
- Ofertas recibidas
- 1
- Procedimiento
- open
- Acuerdo marco
- No
- CPV
- 38433000
- Procedimiento (id)
- 921ace37-1717-4e5e-b47c-4eb1bed1360e
- Fuente
- TED