LAB FIB SEM

Optische metrologie- en inspectietoestel voor BEOL

Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas)· traducción automática de TED

Imec EU Pilot line NV · Heverlee, BE242

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confovis GmbH

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High Throughput Frontside Wet Clean Tool

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TOOL VOOR ENKELWAFELVERWERKING

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SCREEN Semiconductor Solutions Co., Ltd.

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FEOL CLEAN CLUSTER

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Digitale tester setup lot 2

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FEOL PEALD PLATFORM

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MASS METROLOGY TOOL

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Lam Research International Sdn. Bhd.

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MICRO SCALE SHEET RESISTANCE PROBER

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KLA Corporation

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EUV TRACK (HNA/LNA)

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Tokyo Electron Europe Limited

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Automated TEM Analysis Platform

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Marché de fournitures pour l’acquisition d’un FEG-SEM (Field Emission Gun – Scanning Electron Microscope) équipé d’un EDS (Energy-Dispersive Spectrometer) et d’un détecteur EBSD (Electron BackScatter Diffraction), complété par un contrat d’entretien pluriannuel à durée de vie du matériel

Microscopios electrónicos· traducción automática de TED

Ministère de la Défense · Evere, BE100

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537 k€

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FEI EUROPE BV - Branch Belgium

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LARGE DUAL BEAM (FAB FIB SEM)

Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas)· traducción automática de TED

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FEI EUROPE BV - Branch Belgium

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